Le plateau technique "Composants et Systèmes Télécoms" a pour but de caractériser du point de vue optique et électronique d'une part des composants photoniques de type opto-microondes figurant dans les systèmes de télécommunications optiques, et d'autre part des systèmes eux-mêmes. Les interactions entre les deux types d'ondes peuvent aussi être étudiées.

La caractérisation des composants photoniques de type opto-microondes nécessite plusieurs étapes qui peuvent s'avérer assez complexes compte-tenu même de la nature de ces composants et des nombreux paramètres physiques mis en jeu. En ce qui concerne la caractérisation hyperfréquence une chaîne de mesure peut être organisée autour d'un ensemble  générateur RF et analyseur de spectre, les modèles présents au sein de la plateforme étant respectivement de 20 GHz et 44 GHz de bande passante. La mesure de composants dans le domaine RF nécessite bien sûr un analyseur de réseau, pour le moment nous disposons seulement d'un analyseur 1.8 GHz et d'un analyseur 3 GHz. La réalisation d'un équipement cohérent à 20 GHz est une de nos priorités. A côté existent aussi des appareils de mesure classiques pour une instrumentation électronique, générateur de fonctions BF, multimètre, fréquencemètre et oscilloscope. Ainsi il est possible de développer l'électronique nécessaire à la mise en œuvre des composants.

Dans le domaine optique, les sources laser accordables, associées à un amplificateur à fibre dopées erbium, et à des détecteurs large bande (bandes passantes respectivement de 18 GHz et 40 GHz), permettent de caractériser un composant en transmission, composant connectorisé ou éventuellement placé sur un banc optique de précision. Un autre équipement considéré comme fondamental à acquérir consiste en un analyseur de spectre optique de haute résolution.
Les mesures associant les deux aspects RF et optiques sont possibles, leur variété ne dépendant que des possibilités de combinaison croisée des différents appareils de mesure. Ainsi il est possible de déterminer les fonctions de transfert dans le domaine optique et électronique ainsi que les caractéristiques croisées.

A côté de l'appareillage de mesure il possible de mener des simulations dans les deux domaines optiques et microondes, à l'aide de logiciels basé sur la technique des éléments finis.