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ENS Cachan - Institut d'Alembert

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Caractérisation de matériaux

Le plateau technique « caractérisation de matériaux » permet l'élaboration de couches minces organiques et la caractérisation de matériaux organiques qui sont utilisés dans les projets en photophysique, photochimie et photonique de l'Institut. L'étude de composés ou d'échantillons dans ces différents domaines nécessite une caractérisation préalable. En effet, il est toujours nécessaire de connaître la composition, la stabilité ainsi que la taille des objets que l'on étudie pour mieux comprendre leurs propriétés.

Microscope à force atomique (AFM)
Microscope à force atomique (AFM)

Les appareils de mesures contenus dans le plateau technique peuvent être divisés selon quatre axes :
Détecteur EDX sur MEB
Détecteur EDX installé sur le Microscope électronique à balayage


Contacts

Arnaud BROSSEAU (AFM, ATG/DSC, FT-IR, Evaporateur, UBM)
Laurent GALMICHE (MEB)
Isabelle LEDOUX RAK (Mesures en photonique moléculaire)
Keitaro NAKATANI (Mesures en photonique moléculaire)
Chi Thanh NGUYEN (Ellipsomètre)

Consulter le calendrier des réservations

Localisation

Les équipements de ce plateau technique sont répartis dans différents sites :
- Bâtiment d'Alembert - 2ème étage - PPSM
- Bâtiment d'Alembert - 1er étage - LPQM (Ellipsomètre)
- Bâtiment de l'Institut d'Alembert - Rdc Bas - pièce B31 (MEB)
- Bâtiment de l'Institut d'Alembert - Rdc Bas - pièce B36 (Mesures en photonique moléculaire)

Appartenance

Equipements mis à disposition de l'Institut d'Alembert par le PPSM et le LPQM